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CAMECA Leap Technology Center

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    Líder em espectrometria de massa por íons secundários (SIMS), microanálise por sonda eletrônica (EPMA), espectrometria de emissão de raios-X induzida  por elétrons de baixa energia (LEXES) e tomografia por sonda atômica (ATP) fornecendo dados elementares e isotópicos microanaliticos precisos e exatos, com aplicações em mineralogia, geoquímica e ciência do espaço, celular e microbiologia, ciência dos materiais, nanomateriais e semicondutores. Ferramentas de metrologia inovadoras para fabricação microeletrônica, desde in-fab controle do processo à P & D para filmes finos e materiais novos. Mercados incluem materiais, indústria de semicondutores, geociências e ciências da vida.